Данная публикация изъята из фонда.
Перейти к актуальной версии.
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Покупка
Основная коллекция
Тематика:
Общетехнические дисциплины
Издательство:
Лаборатория знаний
Год издания: 2017
Кол-во страниц: 601
Дополнительно
К покупке доступен более свежий выпуск
Перейти
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологиеских наноструктур.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Тематика:
ББК:
УДК:
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов.
Для полноценной работы с документом, пожалуйста, перейдите в
ридер.
К покупке доступен более свежий выпуск
Перейти