Книжная полка Сохранить
Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Патентные исследования : анализ патентной ситуации

Покупка
Артикул: 754413.01.99
Доступ онлайн
2 000 ₽
В корзину
В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники.
Рожнов, А. Б. Патентные исследования : анализ патентной ситуации : учебное пособие / А. Б. Рожнов, В. Ю. Турилина. - Москва : Изд. Дом МИСиС, 2015. - 75 с. - ISBN 978-5-87623-977-8. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/1246167 (дата обращения: 26.04.2024). – Режим доступа: по подписке.
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов. Для полноценной работы с документом, пожалуйста, перейдите в ридер.
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ 

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ  
ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ  
«НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МИСиС» 

 

 
 
 

 

 

 

 
 

 

№ 2910 

Кафедра металловедения и физики прочности
Лаборатория гибридных наноструктурных материалов 

А.Б. Рожнов 
В.Ю. Турилина 
 

Патентные исследования.
Анализ патентной ситуации 

 

Учебное пособие 

Рекомендовано редакционно-издательским 
советом университета 

Москва  2015 

УДК 608.3 
 
Р62 

Р е ц е н з е н т ы  
д-р экон. наук А.Д. Корчагин (ОАО «РЖД»); 
д-р физ.-мат. наук, проф. С.Д. Калошкин (НИТУ «МИСиС»); 
канд. хим. наук Б.М. Аксельрод (Бюро «Аналитический Консалтинг») 

Рожнов А.Б. 
Р62  
Патентные исследования. Анализ патентной ситуации : 
учеб. пособие / А.Б. Рожнов, В.Ю. Турилина. – М. : Изд. Дом 
МИСиС, 2015. – 75 с. 
ISBN 978-5-87623-977-8 

В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: 
анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. 
Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований 
друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные 
этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной 
ситуации. 
Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных 
базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. 
Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных 
сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием 
новых объектов техники.  
Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 
от 24.06.2013 г. 

УДК 608.3 

ISBN 978-5-87623-977-8 
© А.Б. Рожнов, 
В.Ю. Турилина, 2015 
 
© НИТУ «МИСиС», 2015 

ОГЛАВЛЕНИЕ 

Введение....................................................................................................4 
Перечень сокращений ..............................................................................9 
1. Классификация патентной информации ..........................................10 
2. Основные типы патентных исследований........................................17 
2.1. Анализ патентной ситуации .......................................................17 
2.2. Исследования технического уровня объекта техники .............18 
2.3. Исследование тенденций развития объекта техники...............20 
2.4. Исследование патентоспособности объекта техники ..............21 
2.5. Исследование патентной чистоты объекта техники.................23 
2.6. Другие виды патентных исследований......................................25 
3. Основные этапы проведения патентных исследований..................26 
3.1. Общий порядок проведения патентных исследований............26 
3.2. Составление регламента поиска.................................................26 
3.3 Поиск и отбор патентной и другой документации....................30 
3.4. Систематизация и анализ отобранной документации..............33 
4. Особенности проведения патентного поиска в различных 
базах данных ...........................................................................................35 
4.1. Патентный поиск в базе данных ФИПС....................................35 
4.2. Патентный поиск в базе данных Espacenet ...............................42 
4.3. Патентный поиск в базе данных Questel ...................................51 
5. Анализ патентной ситуации: подробное описание .........................58 
Заключение..............................................................................................69 
Библиографический список...................................................................70 
Перечень терминов.................................................................................72 
 

ВВЕДЕНИЕ 

Патентные исследования представляют собой исследования патентной и другой информации, содержащей сведения о научнотехнических достижениях, связанных с разработкой новой продукции и процессов, и включающие поиск, отбор, обобщение и анализ 
такой информации. В инженерном деле основным источником патентной информации являются патенты на изобретения [1, 2].  
Патент на изобретение представляет собой охранный документ, 
закрепляющий исключительное право, авторство и приоритет в отношении определенного технического решения, описанного в текстовой части самого патента. Патент выдается патенообладателю 
государственным органом исполнительной власти по интеллектуальной собственности (в Российской Федерации – Федеральный институт промышленной собственности (ФИПС)) [2, 3]. 
В основе патента как охранного документа лежит идея о том, что 
тому, кто первый изобрел и заявил о своем изобретении (и запатентовал его), предоставляется врéменное право запрещать другим лицам использовать это изобретение. Такое право гарантируется государством на основе действующей нормативно-правовой базы, в России – в первую очередь Гражданского кодекса РФ, часть 4 [4]. Взамен изобретатель раскрывает свое изобретение обществу, поскольку 
текст патента, описывающий сущность изобретения, является общедоступным (за исключением изобретений, подпадающих под категорию «Для служебного пользования» – технологии, составляющие 
государственную тайну). Все патенты хранятся в соответствующих 
патентных фондах в каждой стране и любой человек может ознакомиться с ними. Развитие информационных технологий сделало доступ к 
патентам еще проще. В настоящее время с любого компьютера, подключенного к сети интернет, можно зайти в электронную версию патентой базы данных, найти и прочитать любой оцифрованный патент. 
Зачем патентовать свое изобретение? Патентование изобретения 
должно быть так или иначе связано с его коммерциализацией. Это –
главная цель патентования. Поскольку за патентовладельцем законодательно закрепляется право запрещать его использовать другим, это 
означает, что патентовладелец будет иметь монополию на его использование, в том числе производство, закрепленную юридически. 
Другими словами, имеющиеся на рынке конкуренты не смогут производить и реализовывать такой же продукт, который защищен па
тентом, производится и реализовывается патенообладателем. Заниматься коммерциализацией изобретения патентовладелец может, 
внедряя свое изобретение в уже существующее производство или 
создавая новое производство.  
Патент как документ состоит из ряда обязательных разделов, которые имеют место в патентах практически всех стран, т.е. форма патента 
является унифицированной. К основным разделам патента относятся: 
библиографическая информация (номер патента, данные об авторах и 
патентовладельцах, дата подачи заявки и др.), реферат (краткая аннотация, описывающая сущность изобретения), описание изобретения (раскрывающее его с полнотой, достаточной для осуществления изобретения), рисунки, чертежи и иные материалы (если они необходимы для 
понимания сущности изобретения), формула изобретения, выражающая 
его сущность и полностью основанная на описании [5, 6].  
Таким образом, любой патент на изобретение содержит не только 
описание самого изобретения, но и другую полезную информацию. 
Так, из библиографической информации можно получить сведения о 
том, кому принадлежат права на патент, сколько еще времени (лет) 
будет действовать патент и др. Из самого описания изобретения 
можно получить информацию о проблеме, которая решалась в данном изобретении, описание существовавших ранее технических решений в этой области (со ссылками на другие более ранние патенты 
или научно-техничскую литературу).  
В связи с таким многообразием различной информации, которую 
могут нести патенты, ее доступностью и унифицированностью, становится очевидным, что патентные исследования, направленные на 
изучение такой информации, являются важным инструментом изучения уже запатентованных решений, выявления различных тенденций и закономерностей развития техники, а также достигнутого 
уровня техники и др. При этом к патентным исследованиям следует 
относить любые исследования, связанные с анализом патентной информации, например, изучение содержания (описания) отдельных 
изобретений, библиографической информации наборов патентов, 
объединенных какой-либо тематикой. 
Патентные исследования проводятся в первую очередь теми организациями или физическими лицами, которые участвуют в разработке новых продуктов и технологий и их практической реализации 
(производстве), т.е. занимаются инновационной деятельностью. В 
первую очередь, патентные исследования должны проводиться на 
предприятии на котором предполагается выпуск новой продукции 

защищенной патентом. Именно для предприятия важно понимать 
насколько патентоспособна новая разработка, каков уровень техники 
и тенденции развития в данной области, будет ли являться продукция патентно-чистой. В случае возникновения каких-либо споров 
или претензий по поводу патентной охраны выпускаемого продукта 
именно предприятие несет соответствующую ответственность. Поэтому знание этой информации позволяет предприятию принимать 
своевременные и правильные решения по аспектам стратегии своего 
развития, связанным с выведением на рынок новой продукции. Однако новая разработка необязательно рождается внутри предприятия, 
она может появляться и развиваться в других организациях (университетах, научно-исследовательских институтах, центрах и т.д.), особенно на начальных стадиях и уже потом дорабатывается и внедряется на предприятии. В таком случае патентные исследования часто 
проводятся в этих организациях.  
Что касается физических лиц – конкретных исполнителей патентных исследований, то последние обычно выполняются специалистами патентных служб организаций. Тем не менее патентные исследования могут быть выполнены и инженерами, научными сотрудниками, профессорско-преподавательским составом и другими лицами 
при наличии у них соответствующих навыков и квалификации. Базовый уровень знаний и навыков, необходимых для проведения патентных исследований, может быть освоен любым специалистом с 
техническим образованием в достаточно короткое время. Такой базовый уровень позволяет провести хотя бы предварительные «оценочные» патентные исследования и далее принять решение о целесообразности проведении более глубоких и детальных исследований в 
патентной службе. Однако следует отметить, что все же при проведении патентных исследований квалификация специалиста, проводящего исследования, является ключевым фактором, так как именно 
от этого специалиста зависит то, какие выводы будут сделаны, какие 
шаги будут предприняты в дальнейшем организацией и какие финансовые доходы или потери будет нести эта организация. Поэтому 
то, насколько квалифицированного специалиста стоит привлекать к 
патентным исследованиям, определяется конкретной ситуацией: на каком этапе разработки ведутся патентные исследования, каковы последствия принятия решений, каковы временны΄е и финансовые ресурсы и 
др. Для особо ответственных случаев есть и другая практика – можно 
привлекать внешних специалистов для проведения патентных исследований (сегодня на рынке работает множество патентных фирм). 

Патентные исследования могут и должны проводиться на различных этапах жизненного цикла разрабатываемой продукции: от этапа 
планирования научных исследований вплоть до стадии стабильного 
производства и снятия продукции с производства. На начальных этапах жизненного цикла (перед началом разработки) патентные исследования могут ответить на вопрос о том, не дублирует ли планируемая разработка уже существующие и стоит ли вообще заниматься 
разработкой планируемого продукта (или развивать данное направление) и если да, то с учетом каких особенностей это нужно делать. 
На этом этапе можно понять, решалась ли поставленная техническая 
задача ранее, какие решения защищены патентами, какие фирмы работают в данной области техники, каковы перспективы разработки 
темы. 
На этапах проведения научно-исследовательских и опытноконструкторских работ патентные исследования помогут обосновать 
необходимость выполнения каких-либо конкретных работ, оценить 
патентоспособность разработки. На этапах подготовки к производству и самого производства продукции важны патентные исследования, направленные на оценку патентной чистоты (см. ниже), мониторинга и оценки патентной ситуации в целом. Как будет показано ниже, существует несколько различных целей проведения патентных 
исследований, которые фактически предопределили появление различных видов патентных исследований.  
Для проведения патентных исследований в Российской Федера
ции разработан и действует Государственный стандарт Р 15.011–96 
[7]. Данный документ в общем виде перечисляет основные виды патентных исследований и устанавливает порядок их проведения, описывает требования к отчету о патентных исследованиях. Однако он 
не содержит конкретных указаний о том, как именно нужно проводить патентные исследования, какие конкретно практические действия необходимо осуществлять при проведении патентных исследований.  
Необходимо отметить, что патентные исследования обязательно 

нужно проводить по ГОСТ Р 15.011–96 только тогда, когда это требуется в соответствующих договорных документах. Например, при 
заключении государственного контракта с университетом на выполнение научно-исследовательской работы в тексте последнего может 
содержаться требование о том, что патентные исследования должны 
быть проведены по ГОСТ Р 15.011–96. Когда такого требования нет, 
то проводить патентные исследования можно любым удобным обра
зом. Например, предприятие, которое само разрабатывает и внедряет 
в производство новую продукцию, не обязано внутри себя проводить 
исследования по данному ГОСТу. Тем не менее этим ГОСТом достаточно часто пользуются, поскольку он определенным образом систематизирует и организует работу специалиста, проводящего патентные исследования, «заставляет» готовить отчет по определенным 
формам, что в конечном итоге может оказаться полезным и при необходимости в последствии поможет разобраться в результатах.  

Однако, как уже было сказано выше, отсутствие в ГОСТ Р 15.011–96 

конкретных практических указаний относительно того, как нужно 
проводить патентные исследования, несколько понижает ценность 
данного документа. В то же время такие практические указания были 
разработаны и описаны в период СССР и опубликованы в виде методических рекомендаций, например в работах [8, 9]. Однако эти рекомендации недостаточно обновлялись со временем и даже в исходной 
версии не всегда были конкретизированы. Кроме того, в последние 
годы появился новый и мощный технический инструментарий в патентных исследованиях – патентные базы данных в интернете с возможностью поиска и анализа информации. В связи с этим настоящее 
пособие и ставит целью сформулировать и описать с примерами конкретные методические рекомендации по проведению патентных исследований, по крайней мере на уровне, доступном для освоения любому студенту, аспиранту и научному сотруднику с техническим образованием.  
Необходимо отметить, что в целом патентные исследования носят 
вероятностный характер и их результаты рекомендуется использовать в качестве только одного из возможных инструментов при принятии важных решений в процессе разработки нового продукта или 
процесса. Гарантировать 100 %-ный результат в таких исследованиях 
весьма сложно. Тем не менее эффективность исследований и достоверность получаемых выводов может быть существенно повышена с 
помощью современного инструментария и высокой квалификации 
специалиста, проводящего исследование. 

ПЕРЕЧЕНЬ СОКРАЩЕНИЙ 

Российское название 
Англоязычное название 

Аббревиатура/Расшифровка 
Аббревиатура/Расшифровка
Примечание 

АПУ/алфавитно-предметный 
указатель 
– /Index 
Для определения 
индексов МПК 

ВОИС/Всемирная Организация интеллектуальной Собственности 

WIPO/World Intellectual 
Property Organization 
– 

ЕК/Европейская Комиссия 
EC/European Commission 
– 

– /Европейский патент 
EP/ European Patent 
– 

ЕПВ/Европейское патентное 
Ведомство 
EPO/European Patent Organization 
– 

ЕПК/Европейская патентная 
классификация 
ECLA/European 
Classification 
– 

ИНИД/коды для идентификации библиографических данных  

INID/Internationally Agreed 
Numbers for the Identification
of (bibliographic) Data 

Для идентификации 
данных в патентных 
документах 

ИНПАДОК/Международный 
центр патентной документации 

INPADOC/ International Patent Documentation Center 
База данных патентов, 
созданная ЕПВ 

МПК/Международная 
патентная классификация 
IPC/International Patent 
Classification 
– 

СПК/ Совместная патентная 
классификация 
CPC/Cooperative Patent 
Classification 
Совместная классификация ЕС и США 

– /Договор о патентной 
кооперации 
PCT / Patent Cooperation 
Treaty 
Процедура «упрощенного» международного 
патентования  

– /Поисковая патентная 
система фирмы Questel 
QPAT/Questel Patent Search 
– 

ФИПС/Федеральный институт промышленной собственности 

FIPS/Federal Institute 
of Industrial Property 
– 

1. КЛАССИФИКАЦИЯ ПАТЕНТНОЙ 
ИНФОРМАЦИИ 

Перед тем как перейти к более детальному рассмотрению патентных исследований, необходимо кратко проанализировать и понять, 
как организована и систематизирована патентная информация. Под 
патентной информацией понимается та статистическая информация 
(о динамике патентования, патентовладельцах и пр.), которую можно 
извлечь, обработав массив патентов, а также информация, содержащаяся внутри самого отдельно взятого патента (в первую очередь это 
касается так называемой библиографической информации).  
Международная патентная классификация. Поскольку изобретения создаются и патентуются во всех областях техники, для удобства 
и облегчения поиска патентов разработана и используется их классификация. Классификация позволяет распределить технические решения, содержащейся в патентной документации, по тематическим рубрикам для обеспечения упорядоченного хранения патентных документов и поиска нужной информации. Практически в каждой стране имеется своя национальная классификация, однако на практике наиболее 
часто пользуются унифицированной международной патентной классификацией (МПК, на англ. языке – International Patent Classification). 
МПК, являясь средством для единообразного в международном масштабе классифицирования патентных документов, представляет собой 
эффективный инструмент для патентных ведомств и других организаций, осуществляющих поиск патентных документов [10]. 
Первый проект МПК был утвержден в 1954 г. МПК постоянно пересматривается и редактируется Межправительственным комитетом экспертов при Международном бюро Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС). В настоящее время (на 2015 г.) действует версия Международной патентной классификации – МПК-2015.01, 
которая вступила в силу 1 января 2015 г. (с 2006 г. каждая версия 
МПК обозначается годом и месяцем вступления в силу этой версии). 
Международная патентная классификация устроена как разветв
ленная иерархическая система, организованная по принципу от общего к частному (рис. 1.1). Существуют пять основных уровней иерархии: 
1) Раздел; 
2) Класс; 
3) Подкласс; 

4) Группа; 
5) Подгруппа. 

Рис. 1.1. Схема иерархии МПК 
(общая схема и пример обозначений различных уровней иерархии) 

Дальнейшее уточнение происходит путем подчинения одних под
групп другим. Каждый объект классификации состоит из индекса и 
описательной части. Индекс объекта (кроме разделов) состоит из соответствующего индекса предыдущего уровня и добавленной к нему буквы или числа. Описательная часть, как правило, состоит из заголовка 
объекта и краткого перечня относящейся к нему тематики или рубрик. 
МПК разделена на восемь разделов. Разделы представляют собой 
высший уровень иерархии МПК. Каждый раздел обозначен заглавной буквой латинского алфавита от A до Н. Разделы имеют следующие названия: 
Раздел A – УДОВЛЕТВОРЕНИЕ ЖИЗНЕННЫХ ПОТРЕБНОСТЕЙ 
ЧЕЛОВЕКА. 
Раздел B – РАЗЛИЧНЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ; 
ТРАНСПОРТИРОВАНИЕ. 
Раздел C – ХИМИЯ; МЕТАЛЛУРГИЯ. 
Раздел D – ТЕКСТИЛЬ; БУМАГА. 
Раздел E – СТРОИТЕЛЬСТВО; ГОРНОЕ ДЕЛО. 
Раздел F – МАШИНОСТРОЕНИЕ; ОСВЕЩЕНИЕ; ОТОПЛЕНИЕ; 
ДВИГАТЕЛИ 
И 
НАСОСЫ; 
ОРУЖИЕ 
И 
БОЕПРИПАСЫ; 
ВЗРЫВНЫЕ РАБОТЫ. 
Раздел G – ФИЗИКА. 
Раздел H – ЭЛЕКТРИЧЕСТВО. 
Каждый раздел делится на классы. Классы являются вторым уров
нем иерархии МПК. Индекс класса состоит из индекса раздела и двузначного числа. Заголовок класса отражает содержание класса (рис. 1.2). 

Доступ онлайн
2 000 ₽
В корзину