Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Основы радиационной стойкости изделий электронной техники

Доступ онлайн
2 000 Р
В корзину

Основы радиационной стойкости изделий электронной техники

Нет доступа
Новинка
Издательство: ИД МИСиС
Вид издания: Учебное пособие
Уровень образования: ВО - Бакалавриат
Год издания
2013
Кол-во страниц
349
ISBN
978-5-87623-661-6
Артикул
600333.02.99
Аннотация
Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе, влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства полупроводников, деградация кремниевых приборов и микросхем вследствие радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений космического пространства, влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на деградацию изделий оптоэлектроники, особенности испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства. Предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника», а также студентов, обучающихся по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». Будет полезно специалистам, работающим в области конструирования изделий полупроводниковой электроники и технологии их изготовления, а также обеспечения надежности и радиационной стойкости комплектующих элементов и аппаратуры.
Библиографическая запись Скопировать запись
Таперо, К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники : учебное пособие / К. И. Таперо, С. И. Диденко. - Москва : Изд. Дом МИСиС, 2013. - 349 с. - ISBN 978-5-87623-661-6. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/1239506 (дата обращения: 06.03.2021). – Режим доступа: по подписке.