Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Данная публикация изъята из фонда. Перейти к доступной версии.

Нанометрология

К покупке доступен более свежий выпуск Перейти

Нанометрология

Нет доступа
Основная коллекция
Издательство: Логос
Вид издания: Монография
Уровень образования: ВО - Магистратура
Год издания
2011
Кол-во страниц
416
ISBN
978-5-98704-494-0
Артикул
619960.01.99
Аннотация
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX- XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.
Библиографическая запись Скопировать запись
Сергеев, А. Г. Нанометрология : монография / А. Г. Сергеев. - Москва : Логос, 2011. - 416 с. - ISBN 978-5-98704-494-0. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/469008 (дата обращения: 29.11.2020)
Выпуски издания