Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности

Доступ онлайн
2 000 Р
В корзину

Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности

Нет доступа
Новинка
Издательство: ИД МИСиС
Вид издания: Учебно-методическая литература
Уровень образования: ВО - Бакалавриат
Год издания
2002
Кол-во страниц
65
Артикул
753417.01.99
Аннотация
Приведены ширины запрещенной зоны, энергии ионизации примесных и рекомбинационных центров - по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности. Описана интерактивная компьютерная расчетная программа в среде Mathcad, имитирующая реальную ситуацию экспериментального исследования свойств полупроводника по температурным зависимостям его основных параметров. Приведено подробное поэтапное описание методики расчета, а также программа расчета в среде Mathcad с описанием файлов основной программы и субпрограмм. Предлагаемая методика может быть использована как в учебном процессе, так и в научных исследованиях. Пособие состоит из двух частей. Первая часть предназначена для студентов направлений 6541, 5531, 5507, обучающихся по специальностям 200100, 071000, выполняющих курсовую работу по физике твердого тела. Вторая часть предназначена для преподавателей, составляющих задания к курсовой работе.
Библиографическая запись Скопировать запись
Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности : методические указания / сост. Ф. И. Маняхин. - Москва : ИД МИСиС, 2002. - 65 с. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/1239482 (дата обращения: 06.03.2021). – Режим доступа: по подписке.