Инженерные основы измерений нанометровой точности
Покупка
Тематика:
Общетехнические дисциплины
Издательство:
Интеллект
Автор:
Лич Ричард К.
Год издания: 2012
Кол-во страниц: 400
Дополнительно
Вид издания:
Учебное пособие
Уровень образования:
ВО - Бакалавриат
ISBN: 978-5-91559-119-5
Артикул: 441434.02.99
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Тематика:
ББК:
УДК:
ОКСО:
- ВО - Бакалавриат
- 22.03.01: Материаловедение и технологии материалов
- 27.03.01: Стандартизация и метрология
- 27.03.02: Управление качеством
- 27.03.04: Управление в технических системах
- 28.03.01: Нанотехнологии и микросистемная техника
- 28.03.02: Наноинженерия
- 28.03.03: Наноматериалы
- ВО - Магистратура
- 28.04.01: Нанотехнологии и микросистемная техника
ГРНТИ:
Скопировать запись
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов.
Для полноценной работы с документом, пожалуйста, перейдите в
ридер.
Р. ЛИЧ ИНЖЕНЕРНЫЕ ОСНОВЫ ИЗМЕРЕНИЙ НАНОМЕТРОВОЙ ТОЧНОСТИ Перевод с английского А.В. Заблоцкого
Р. Лич Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное издание / Р. Лич – Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2012. – 400 с. ISBN 9785915591195 Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатноизмерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеровразработчиков и исследователей. ISBN 9785915591195 © 2010, Richard K. Leach. Published by Elsevier Inc. All rights reserved. This edition of FUNDAMENTAL PRINCIPLES OF ENGINEERING NANOMETROLOGY by Richard Leach is published by arrangement with ELSEVIER INC., a Delaware corporation having its principal place of business at 360 Park Avenue South, New York, NY 10010, USA © 2012, ООО Издательский Дом «Интеллект», оригиналмакет, оформление ISBN 9780080964546 (англ.)
!"#$!%& !!"'()$***$+%(& ! "#$%,#)')#-).-/)#01!/!)-#"!) '2$3& , &40!5'6 #-)!/!/'/"!"02$3& &'' ('(&)*+),-./0123/4/)++),-./45212+/6 7)-)'& ,/)-)#!!!!""#"-8!" "& &741282+/2/0)9128+),-./45212+/6 !;!)/)'!"''!!"'!)'</& !"# $$%& <<1/+3/0:2=,->/692;/=?+2)+)>)9);74217 <0),)@A,-7@/;/473//:;/+A>);+A ):+)5):)>)9);74217 <-7@/;/473/6*7,-)-A;74217 ,/,0);.4)>7+/2552-):7 +7,AB2++)9)0)9;)B2+/6 He—Ne I2 f 3f 3f Когерентный фильтр Пьезоэлектрический привод Пьезоэлектрический привод Детектор Осциллятор и утроитель Высоковольтный усилитель постоянного тока Малошумящий усилитель Интегрирующий фильтр Управляемый интегрирующий фильтр <!7421A',-7@/;/4/1)>7++A20),12:,->)5 /,0);.4)>7+/6CDD2E-72257+7' /4;F*7GB/2+7:;/+2>);+A#+5 <"7;/@1)>E7*7,-)-AH,-7@/;/4/1)>7++)9)I ;74217'/4;F*7GB29)+7:;/+2>);+A#+5 Зеркало Светоделитель Стабилизированный по молекулярной линии поглощения паров йода гелийнеоновый эталонный лазер Калибруемый гелийнеоновый лазер Фотодетектор Калибруемый гелийнеоновый лазер <#FB2,->FGB/2/021,02E-/>+A2 ;7421+A2,-7+:71-A*7,-)-A J
=:"'.>?@AB1#.CADAB1&E)#)-!:!'!#&,0-!)#</&F"#'#!)-!"""'& )*;2+2+/22;.>/+7 Сфера, присоединенная к верхней пластине Плоская поверхность Трехгранный паз Vобразный паз а б 27;/473/62:/+,->2++)=,-202+/,>)@):A Вид сбоку Вид снизу Каретка !G--#)!:'!)#-)!#''!& H!#-)!#'')!#)&E0#!!!#-)-#-##)!!' I--&
"$$#$$#71E7,+A=E)+-F1 #20;)>)=E)+-F1 #2-1);)9/*2,E/=E)+-F1 %%/+/5/473/6-20;)>)9)>)4:2=,->/6 %/+/5/473/652K7+/*2,E)9)>)4:2=,->/6 &<<,-)*+/E/>/@173// <7,,/>+76>/@1)/4);63/6 !"#"$%#"$&'($))*+#",$-)#%$4%$)5/*/2/0*%%"0/3",$ $./"/-/)#60$"&/1#/2$",# Длина Опорная точка /3/)#/#),/07/0$2/,0#8 "М1 М2 C S A B D 4#9:;#<::М1 М2 C A S B "+/2*#),/07/0$2/,0$#<=2;,>?S1 S2 E t 1( ) E t 2( ) E t 0( ) E E 2 1 + L Детектор Эталонное зеркало Объектное зеркало Источник 4#<7I S1 S2 Объект Лазер Линза Линза Линза Поворотное зеркало Светоделитель с 50% пропусканием Камера или наблюдатель Эталонное зеркало #<=12@>5A T1 T2 D К детектору От источника Светоделитель Светоделитель Зеркало Зеркало #<7>B P #),/07/0$2/,0#6%$)5/*+2/0 #= AAB<L d D Источник света L Концевая мера Призма Кестерса Эталонное зеркало Наблюдатель Светоделитель Подложка b a Увеличение порядка интерференции Относительный сдвиг полос интерференционной картины / a b
40<==@!"#"$"$ L1 L2 f f g Oc p L1 f g Oi Подложка Оптическая плоскость Отдельная концевая мера, притертая к подложке #A:!"!"##!!" !"!$!"!!!"!!%!"!!!!"$!"&'#(" "#"$%#"$&'($))*+#",$-)#%$ /3/)#/ 4#),/07/0$2/,0#6/0/2/C/)#D 4$=<AB 44?<f1 f1 f f 1 ± f f 1 ± Подвижный световозвращатель Светоделитель Стационарный световозвращатель (эталонный отражатель) Лазер Детектор
4?<f1 f2 f f 2 ± f f 2 ± Подвижный световозвращатель Светоделитель Стационарный световозвращатель Лазер Детектор f2 f1 4"<=@A43@A@<43<<;<Фотодетектор интерферограммы 1 Фотодетектор интерферограммы 2 Лазерный луч Светоделитель Жамена Поляризующий светоделитель Световозвращатель /4пластины 4E#<A= 4F#A: Реальное расстояние Измеренное расстояние Лазерный луч Ось движения !"# $%&!&'(&&!4G:=<= f1 f f 2 ± 2 f2 f2 f f 1 ± 1 f f 2 ± 2 f1 f f 1 ± 1 К фотодетектору Угловой интерферометр Уголковый отражатель Устройство для отклонения луча Известное расстояние Поляризующий светоделитель От лазера /2%$",)*/3,-#%# Зонд Объект #)3G%,#)*/3,-#%# Нулевое положение Погрешность измерения перемещения, мкм Перемещение, мм –ve +ve $,#-/"%#/3,-#%# Измерительная шкала (период = 0 512 мкм) , Источник света Коллимирующая линза Детекторы Шаговая решетка (период = 1 024 мкм) , $,$$&$%$))*/3,-#%# Угол Брюстера Оболочка Сердцевина а б в Объект Источник Детектор Передающее волокно Приемное волокно E%&#.0$%3,-#%$/0/2/C/)#6 E%A;A<E4%A;:<В М А Пьезоэлектрический привод Направление движения Оптический сигнал Стол поступательного перемещения Устройство перемещения Подвижное зеркало ( ) М Гелийнеоновый лазер Волоконный кабель Оптический модулятор 4пластина Источник рентгеновского излучения 4пластина В М А Рентгеновский интерферометр Детектор Поляризатор Высоковольтный усилитель 5 кГц Фазочувствительный детектор F"#"$%#"$&'($))*+#",$-)#%$ –100 –50 0 50 0 200 400 600 800 Впадины или долины? Высота, нм Длина, мм 318,60 мкм !"#$%&'()*+!"*,' )& Основание Колонна Измерительный контур Держатель зонда Стилус Платформа для образца Крепление Привод --.)/%!0'%!1*( !0'$2!3$)'4$ 5!6,')'%!7 Поверхность Линза объектива -( !0'$2!'$2/%!)#89!',' *4& x Объект Лазер z ПЗСкамера или позиционночувствительный датчик Линза Апертура детектора Апертура осветителя Полевая линза Конденсор Объектив Светоделитель Образец в фокусе а Апертура детектора Апертура осветителя Полевая линза Конденсор Объектив Светоделитель Образец вне фокуса б б а Промежуточное изображение Траектории движения отверстий Отверстие Объект Источник белого света Камера Диск Нипкова Объектив Источник белого света Континуум хроматических фокусных точек Дисперсионная среда 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 0 0 а + 0 – б –z W 0 0 – в z1 z2 -( !0'$2!',' *4& !$$"'4*5/%!1(*5')3%*$ ! !1 2 2 4 3 5 6 7 8 "#$ %&1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 2 3 4 1 2 3 4 5 'x z O R Объект Источник света O R BS M1 C M2 RL MO BS CCD (%&Интерференционный объектив Миро Камера Светоделитель осветителя Увеличивающие линзы Источник света Апертура источника Апертура объектива Фокальная плоскость Сканер Эталонное зеркало Светоделитель интерферометра Ось сканирования Направление сканирования Сверху вниз -' *4&)/$$'1%!1 Порт образца с установленным объектом Фотометрический шар Рассеянные лучи Рассеянные лучи Падающий луч Входное отверстие Выходное отверстие Отраженный луч Порт фотодетектора Фотодетектор Диффузное покрытие :;<=<)*$"'>!5/',*$ ?!6,')'%!7 (/)/,' )*5)'"?'+/(*5')3%*$ ! </"!@)*52/$)'4$ 5!6,')'%!7 (/)/,' )*5()*+!"1(*5')3%*$ ! </"!@)*52/$)'4$ 5!6,')'%!7(/)/,' )*5 )'3,')%*7'2$ #)&(*5')3%*$ ! Rf P I d 1 2 L1 L2 Rf P d Rf P d Df Rf P H1 H2 H3 R1 R2 H4 L3 L2 L1 Di P d Sr S Di d Lx Ly ===A= -BCПьезоэлектрический сканер Фотодиод Лазер Образец Датчик -BC=-D z x y ( , ) Блок оси z Блок управления и записи данных Блок позиционирования по осям , x y Цепь управления по осям , x y Цепь управления по осям , x y Блок , осей x y Измеряемое положение по оси z Цепь управления по оси z Датчик отклонения Зонд Датчик положения по оси z zСканер Измеряемый объект z y x Датчики положения по осям , x y -$ *0%!2!E#,/ 5/ *,%*D$!"*5*7,!2)*$2*(!! 0 250 500 750 1000 нм 0 250 500 750 1000 нм 1,0 нм 0,5 0,0 1,0 нм 0,5 0,0 -'2* *)&'!(!0%&'/) '+/2 & D!6*@)/>'%!7 ! "#! -()'4'"'%!'$!$ ',&2**)4!%/ / *,%*D$!"*5*.*,!2)*$2*(/ px px py ay ax а б -)*$"'>!5/',*$ ? 5/ *,%*D$!"*5*7,!2)*$2*(!! $%&'() !" -6,')'%!'$!"&()!(*,*9!I II III IV + – Притяжение Отклонение, В Перемещение, нм Сила, нН Расстояние, нм Межфазные силы Адгезионные силы Отталкивание а б -()'4'"'%!'>'$ 2*$ !2/% !"'5')/ #$%&'(#*+!,-)*%&' -:6,')'%!')/$$ *1%!1 ,'>4#6*%4*,!*@)/6F*, -;) '+/2 &G5*6%!2/89!'()!!6,')'%!!$!" (*$)'4$ 5*, -H CBC-I-/$ )*5/1J"'2 )*%%/1,!2)*$2*(!1 ./!&&&*-0--)*$5'0!5/89/1J"'2 )*%%/1,!2)*$2*(!1 -)*$"'>!5/',*$ ?!2/"!@)*52/ ()*$5'0!5/89!3J"'2 )*%%&3,!2)*$2*(*5 ./!&&&*.1-&.1+&.$2-$"'4*5/%!'%/%*0/$ !F ()!(*,*9!J"'2 )*%%*7,!2)*$2*(!! б a 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 Размер частиц Частота в ---=::H:"!%/*F'%2! :@9''(')','9'%!' :!"? )/F!1()*+!"1 :$%*5%&'(/)/,' )& 3/)/2 ')!6/F!!()*+!"1 !:/)/,' )&/,("! #4&()*+!"1 K* (!2*54*5(/4!%L "#$$%& "#$'(!%) "#$%* "+,!-%. "/:-)'4%!'6%/0'%!1(/)/,' )*5()*+!"1 0,!$$%1 0,!$!$%2 03%45 0+6$7%58 ::/)/,' )&E!)!%&J"','% *5()*+!"1 ,!-:;/)/,' )&2)!5&3()*+!"1 9!9:!80 60 40 20 0 100 % Средняя линия Длина оценки E 9;7(%<. 9+=!!%>? 9:(!:</%4/) &3/)/2 ')!6/F!!()*+!"1 :H:!"? )/F!1!6*@)/>'%!1(*5')3%*$ ! :!"? )/F!1)'3,')%*7'2$ #)&(*5')3%*$ ! нм 15,56 10 5 0 х: 90,34 мкм у: 90,43 мкм х: 90,34 мкм у: 90,43 мкм х: 90,34 мкм у: 90,43 мкм х: 90,34 мкм у: 90,43 мкм нм5,95 4 3 2 1 5 0 нм 4,35 3 2 0 4 1 нм11,24 9 6 0 3 !"":/%4/) &3/)/2 ')!6/F!! )'3,')%*7'2$ #)&(*5')3%*$ ! :4!%/1$!$ ',/2**)4!%/ 4"13/)/2 ')!6/F!!'2$ #)& !+*),&(*5')3%*$ ! :/)/,' )&3/)/2 ')!6/F!! )'3,')%*7'2$ #)&(*5')3%*$ ! :/)/,' )&F'"*.*!6*@)/>'%!1 "$( !"#$%&%&'()%&*#+( '&,&-'#!.&/& &01 !2&/&!.&/& &01 !!,##(#&&!$.3(01 !.301 10% 80% Высота Относительная опорная площадь Vmc Vvc Vmp Vvv !)4!5(#'!"$6(& :-/)/2 ')!6/F!1J"','% *5(*5')3%*$ ! #$%"$!&'#%""( )*#%")*+'#%"!&'#%")*+'#' ),&))47)!4$)$8($),/&(01 )),/&(01 ).3(01 )9.3(01 :=:!%'7%&'+)/2 /"?%&',' *4& 110 мкм :)/2 /"?%&7/%/"!6 )'3,')%*7'2$ #)&(*5')3%*$ ! $,&-.& ,/*.& 1470 треугольников 25 мкм Srel 1,04 2 4807 треугольников 8,14 мкм Srel 1,07 2 30355 треугольников 2,04 мкм Srel 1,12 2 85336 треугольников 0,51 мкм Srel 1,17 2 :H а б в г д е ж з и к л !"#$#% &'()"*+#%,-".&/0$#(01&12# 3"#('!-4"5-)"-67-897"7)"#:;%<,5" ,%:$%'%*%
Гранитное основание Нанозонд (индикатор начала координат) Точка Аббе Однолучевой интерферометр оси y Исследуемый образец Угловое зеркало Направляющие оси z Приводы оси z Направляющая оси x Привод оси x Двулучевой интерферометр оси x Метрологический контур (церодур) Направляющая оси y Привод оси y Трехлучевой интерферометр оси z Метрологический контур (церодур) Точки крепления зондовой системы Чувствительный зонд (индикатор начала координат) Двулучевой интерферометр оси x Однолучевой интерферометр оси y Исследуемый образец Угловое зеркало Трехлучевой интерферометр оси z .5"Тензодатчики Рама Стилус Упругий подвес 1 2 3 4 z x A z x A Виртуальный зонд Реальный зонд Острие зонда Лазер Фотодетектор Чип зондового датчика 3975"20 нм 20 мм R =1,5 мм R = 4 0, мм y z x 10 мм а б в г д 3%:�%%:$%'%*% :%*##2##3!%:�%%:$%'%*% =#>1* #:<1=0%:1 ?-"--"7@-47 A"-67- B@C- A*$:;D%#$'#'% 0:$#% %$'#(>0'1 A!0D#%'#>E%:%A)%'##%E%:%0:$#% % A,-%&:<<E%:0:$#% % ':(0A.$#%(F 0DG$'#:F0:$#% % A3:%F&:%%:<#%>'&'#:F0:$#% % !"!#!$%%&' !%()A?'%#%#%*+,%&,*-A!H@- A!'#:%'D:F A)H@-A)-#%:<:(%:>: A)!"#:;%<* #1%:>: A))7:F* #F%:>: Лазерные лучи интерферометра Верхняя пластина, к которой прилагается измеряемая сила Гибкий элемент Неподвижные пластины конденсатора Жесткая рама Подвижное зеркало Неподвижное эталонное зеркало Противовес A),I%:#%F:F* #F%:>: $$%%.300 мкм 600 мкм 150 мкм 50 мкм 200 мкм 20 мкм 0,2 0,1 мкм 60 мкм Маркер (стрелка направлена к висячему концу); 5битовый двоичный счетчик Планарные пьезорезисторы Щелевые вырезы в мембране толщиной 3 мкм, сформированные глубоким реактивным ионным травлением $$.,Точка приложения постоянного смещения Точки крепления рамы к подложке Нитридный слой диэлектрика Точка измерения силы тока Гребенчатые приводы Золотая площадка, к которой подводится зонд АСМ (зеркало доплеровского измерителя скорости)