19-25 октября — всемирная неделя открытого доступа. Мы открыли в бесплатный доступ 3000 монографий
Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Инженерные основы измерений нанометровой точности

Инженерные основы измерений нанометровой точности

Нет доступа
Новинка
Издательство: Интеллект
Вид издания: Учебное пособие
Уровень образования: ВО - Бакалавриат
Авторы:
Год издания
2012
Кол-во страниц
400
ISBN
978-5-91559-119-5
Артикул
441434.02.99
Аннотация
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Библиографическая запись Скопировать запись
Лич, Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное пособие / Р. К. Лич. - Долгопрудный : Издательский Дом «Интеллект», 2012. - 400 с. - ISBN 978-5-91559-119-5. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/1117889 (дата обращения: 20.10.2020). – Режим доступа: по подписке.