Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии

Доступ онлайн
14 Р
В корзину

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии

Нет доступа
Основная коллекция
Вид издания: Учебно-методическая литература
Уровень образования: Профессиональное образование
Год издания
2012
Кол-во страниц
28
ISBN
978-5-7782-1924-3
Артикул
631450.01.99
Библиографическая запись Скопировать запись
Величко, А. А. Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии/ВеличкоА.А., КольцовБ.Б. - Новосибирск : НГТУ, 2012. - 28 с.: ISBN 978-5-7782-1924-3. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/546011 (дата обращения: 24.11.2020). – Режим доступа: по подписке.