Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами

Доступ онлайн
от 49 Р
В корзину

Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами

Нет доступа
Основная коллекция
Вид издания: Статья
Уровень образования: Аспирантура
Год издания
2005
Кол-во страниц
10
Артикул
489809.0001.99.0006
Библиографическая запись Скопировать запись
Крылов, П. Н. Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами [Вестник Удмуртского университета. Серия 4. Физика и химия, Вып. 4, 2005, стр. -]. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/503040 (дата обращения: 03.07.2020). – Режим доступа: по подписке.
Классификаторы
Тематика:
ГРНТИ: