Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами

Доступ онлайн
от 49 Р
В корзину

Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами

Нет доступа
Основная коллекция
Вид издания: Статья
Уровень образования: Аспирантура
Год издания
2005
Кол-во страниц
10
Артикул
489809.0001.99.0006
Библиографическая запись Скопировать запись
Крылов, П. Н. Моделирование перераспределения точечных и линейных дефектов в GaAs при локальном воздействии ионами / П. Н. Крылов, А. М. Лебедева. - Текст : электронный // Вестник Удмуртского университета. Серия 4. Физика и химия. - 2005. - №4. - С. 51-60. - URL: https://znanium.com/catalog/product/503040 (дата обращения: 31.07.2021). – Режим доступа: по подписке.
Классификаторы
Тематика:
ГРНТИ:
Текстовые фрагменты публикации