Книжная полка Сохранить
Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Данная публикация изъята из фонда.

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

Покупка
Артикул: 616046.01.99
Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей ре) зультатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измере) ния электрических и неэлектрических величин. Все работы практикума выполня) ются с компьютерными моделями, реализованными в среде LabVIEW. Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по направлениям: «Приборостроение», «Информационные системы», «Автоматика и управление», «Информатика и вычислительная техника», изучающих курсы «Метрология, стандартизация и сертификация», «Теоретические основы измери) тельных и информационных технологий», «Методы и средства измерений» и смежные дисциплины. Практикум может использоваться как при традиционной организации учебного процесса, так и при ориентации на компьютерные обучаю) щие системы, включая систему дистанционного образования.
Батоврин, В. К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий [Электронный ресурс] / под ред. В. К. Батоврина. - 2-е изд, переработ. и доп. - Москва : ДМК Пресс, 2009. - 232 с. - ISBN 978-5-94074-498-6. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/408068 (дата обращения: 18.04.2024)
Фрагмент текстового слоя документа размещен для индексирующих роботов. Для полноценной работы с документом, пожалуйста, перейдите в ридер.