Размер шрифта:
А
А
А
|  Шрифт:
Arial
Times
|  Интервал:
Стандартный
Средний
Большой
|  Цвет сайта:
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

Доступ онлайн
от 299 Р
В корзину

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

Нет доступа
Издательство: ДМК Пресс
Вид издания: Учебное пособие
Уровень образования: ВО - Бакалавриат
Год издания
2009
Кол-во страниц
232
ISBN
978-5-94074-498-6
Артикул
616046.01.99
Аннотация
Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей ре) зультатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измере) ния электрических и неэлектрических величин. Все работы практикума выполня) ются с компьютерными моделями, реализованными в среде LabVIEW. Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по направлениям: «Приборостроение», «Информационные системы», «Автоматика и управление», «Информатика и вычислительная техника», изучающих курсы «Метрология, стандартизация и сертификация», «Теоретические основы измери) тельных и информационных технологий», «Методы и средства измерений» и смежные дисциплины. Практикум может использоваться как при традиционной организации учебного процесса, так и при ориентации на компьютерные обучаю) щие системы, включая систему дистанционного образования.
Библиографическая запись Скопировать запись
Батоврин, В. К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий [Электронный ресурс] / под ред. В. К. Батоврина. - 2-е изд, переработ. и доп. - Москва : ДМК Пресс, 2009. - 232 с. - ISBN 978-5-94074-498-6. - Текст : электронный. - URL: https://znanium.com/catalog/product/408068 (дата обращения: 05.12.2020). – Режим доступа: по подписке.